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CT4567ARA

Name: Cal Test Electronics CT4567ARA
Brand: Cal Test
SKU: 510-CT4567ARA
Price: 95.15 CHF
Availability: OutOfStock

Bilder dienen lediglich der Veranschaulichung und sind nicht Originalgetreu
Siehe Produktspezifikationen

Mouser-Nr.:

510-CT4567ARA

Herst.- Nr.:

CT4567ARA

Herst.:

Cal Test

Beschreibung:

Prüfspitzen Probe 5mm,10x,500MHz,500V CATII (Readout),Champagne Full Kit

Lebenszyklus:

Neues Produkt:

Neu von diesem Hersteller.

Datenblatt:

CT4567ARA Datenblatt (PDF)

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Hersteller:	Cal Test Electronics
Produktkategorie:	Prüfspitzen
RoHS:
Ausstattungsart:	Oscilloscope Probe
Bandbreite:	500 MHz
Nennspannung:	500 VAC
Marke:	Cal Test
Verpackung:	Bulk
Produkt:	Test Probe
Produkt-Typ:	Test Probes
Serie:	CT4560
Verpackung ab Werk:	1
Unterkategorie:	Test Leads, Banana Plugs, Alligator Clips & Test Probes

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Datenblatt

CT4567ARA Datenblatt (PDF)

Konformitätscodes

USHTS:: 9030908911
ECCN:: EAR99

Ursprungsklassifikationen

Ursprungsland:: Taiwan
Herstellungsland:: Nicht lieferbar
Land der Verbreitung:: Nicht lieferbar

Zum Zeitpunkt der Lieferung kann sich das Land ändern.

CT4560 Oscilloscope Probes

Cal Test Electronics CT4560 Oscilloscope Probes are engineered for a broad range of electrical testing scenarios and deliver dependable performance. These oscilloscope probes feature attenuation ranges from X1 to X100 and bandwidths from 55MHz to 500MHz. The CT4560 oscilloscope probes are constructed with high-quality materials to ensure durability, precision, and long-term reliability. These oscilloscope probes support a wide range of signal amplitudes and are suitable for low-frequency analog signals to high-speed digital waveforms. The select models of CT4560 oscilloscope probes support voltage measurements of either 2kV_rms or 4kV_rms, with one 4kV_rms model offering 1% measurement accuracy for precision-critical applications. Applications include general-purpose signal monitoring, troubleshooting and diagnostics in electronic circuits, design validation and verification, and educational lab environments.