Analog Devices Inc. Analog Devices EVAL-ADUM3154Z Testplatine
Die EVAL-ADUM3154Z Testplatine von Analog Devices hilft Entwicklern bei der Auswertung der ADuM3154ARSZ, ADuM3154BRSZ, ADuM4154ARIZ und ADuM4154BRIZ 4-Kanal SPIsolator-Isolatoren, die zur Verwendung in SPI-Anwendungen optimiert sind. Sie umfassen zwei Adresspins mit geringer Geschwindigkeit, um die Slaveauswahl zu einem von vier Zielen umzuleiten. Die EVAL-ADUM3154Z bietet ein JEDEC-Standard 20-Pin-SSOP Pad-Layout, Unterstützung für Signalstörung, Loop Back, referenzierte Ladungen für VDDX oder GNDX und optimale Bypass-Kapazität. Entwickler können Signalquellen auf die Platine verdrahten sowie durch Rand-montierte SMA-Steckverbinder (separat erhältlich) oder Anschlussklemmen für Stromanschlüsse mit der Platine verbinden. Die Platine umfasst 200 mil Positionen für Stiftleisten für Kompatibilität mit aktiven Sonden von Tektronix.EVAL-ADUM3154Z offers a JEDEC standard 20-lead SSOP pad layout, support for signal distribution, loopback, and loads referenced to VDDx or GNDx, as well as optimal bypass capacitance. Designers can wire signal sources onto the board as well as bring signal sources onto the board through edge-mounted SMA connectors (sold separately) or terminal blocks for power connections.
The board includes 200 mil header positions for compatibility with Tektronix active probes.
Merkmale
- Full power and ground plane on each side of the isolation barrier
- JEDEC standard 20-lead SSOP pad layout
- Support for signal distribution, loopback
- Loads referenced to VDDx or GNDx
- Optimal bypass capacitance
- 200 mil header positions for compatibility with Tektronix active probes
Veröffentlichungsdatum: 2014-09-12
| Aktualisiert: 2022-03-11
