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MTE5116N5

Name: Marktech Optoelectronics MTE5116N5
Brand: Marktech Optoelectronics
SKU: 193-MTE5116N5
Price: 12.99 CHF
Availability: InStock

Bilder dienen lediglich der Veranschaulichung und sind nicht Originalgetreu
Siehe Produktspezifikationen

Mouser-Nr.:

193-MTE5116N5

Herst.- Nr.:

MTE5116N5

Herst.:

Marktech Optoelectronics

Beschreibung:

Infrarot-Emitter SWIR Emitter 1650nm

Datenblatt:

MTE5116N5 Datenblatt (PDF)

ECAD Model:

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Hersteller:	Marktech Optoelectronics
Produktkategorie:	Infrarot-Emitter
RoHS:
Montageart:	Through Hole
Wellenlänge:	1650 nm
Beam-Winkel:	5 deg
If - Durchlassstrom:	50 mA
Vf - Durchlassspannung:	950 mV
Nennleistung:	110 mW
Minimale Betriebstemperatur:	- 20 C
Maximale Betriebstemperatur:	+ 80 C
Verpackung:	Bulk
Marke:	Marktech Optoelectronics
Produkt-Typ:	IR Emitters (IR LEDs)
Verpackung ab Werk:	1
Unterkategorie:	Infrared Data Communications

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Datenblatt

MTE5116N5 Datenblatt (PDF)

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Konformitätscodes

CNHTS:: 8541410090
CAHTS:: 8541410000
USHTS:: 8541410000
JPHTS:: 854141000
TARIC:: 8541410000
MXHTS:: 8541410100
ECCN:: EAR99

Ursprungsklassifikationen

Ursprungsland:: Japan
Herstellungsland:: Nicht lieferbar
Land der Verbreitung:: Nicht lieferbar

Zum Zeitpunkt der Lieferung kann sich das Land ändern.

Short Wavelength Infrared Emitters

Marktech Optoelectronics Short Wavelength Infrared (SWIR) Emitters include both through-hole and surface-mount packages with wavelengths ranging from 1020nm to 1900nm. The SWIR emitters operate from 20mA to 350mA current range and are designed for high-power applications. These emitters consist of a high-output infrared die in a water-clear, 5mm plastic-molded package. Marktech Optoelectronics SWIR emitters offer high-speed light emission across spectral ranges not easily detected by standard detectors and are ideal for material and chemical analysis. Typical applications include optical switches, optical sensors, fiber-optic communication, biofluorescence and blood chemistry analysis, night vision, safety equipment, currency validation, fiber optics, and inspection systems.