Texas Instruments TPS7H60x5EVM Evaluierungsmodule
Texas Instruments TPS7H60x5EVM Evaluierungsmodule wurden entwickelt, um die TPS7H60x5-SEP Gate-Treiber schnell und einfach zu demonstrieren. Standardmäßig arbeiten die TPS7H60x5EVM Module mit dem PWM-Modus des TPS7H60x5-SP, der ein Schaltsignal als Eingangssignal erhält und intern ein komplementäres Signal erzeugt. Nutzer können die Standardeinstellung in den IIM-Modus ändern, in dem die beiden Ausgänge mit minimalen Änderungen unabhängig voneinander arbeiten. Durch Eingabe einer 0 V bis 5 V Wellenform auf J9 oder J6/J15 kann diese mit den Eingängen von TPS7H60x5-SEP verbunden werden, um den Treiber zu steuern.
Die TI TPS7H60x5EVM Evaluierungsmodule bieten eine 25 ns typische Laufzeitverzögerung im unabhängigen Eingangsmodus mit einem 1,3 A Spitzenwert der Quelle und einem 3 A Spitzenwert des Senkenstroms. Die Bauteile bieten geteilte Ausgänge für einstellbare Einschalt- und Ausschaltzeiten.
Merkmale
- Wählbarer Eingangsverriegelungsschutz im unabhängigen Eingangsmodus
- Geteilte Ausgänge für einstellbare Ein- und Ausschaltzeiten
- 25 ns typische Laufzeitverzögerung im unabhängigen Eingabemodus
- Spitzenquellstrombelastbarkeit von 1,3 A, Spitzensenkstrom von 3 A
Applikationen
- Kommunikationsnutzlast
- Befehls- und Datenverarbeitung
- Elektrisches Stromversorgungssystem für Satelliten
- Weltraumsatelliten-Point-of-Load-Versorgung für FPGA-Core-Spannungsschienen
Zugehörige EVMs
Texas Instruments TPS7H6023EVM-CVAL Treiber-Evaluierungsmodul
Testen und bewertet den TPS7H6023-SP, einen strahlungsgeschützten 22 V Halbbrücken-GaN-Gate-Treiber.
Texas Instruments TPS7H6013EVM-CVAL GATE Driver Evaluierungsmodul
Bewertet das TPS7H6013-SP Bauteil, einen strahlungsgehärteten QMLV 60 V Halbbrücken-GaN-Gate-Treiber.
Texas Instruments TPS7H6003EVM-CVAL Evaluierungsmodul
Akzeptiert einen Eingang bis zu 150 V, um die Zuverlässigkeit des TPS7H6003-SP durch den Antrieb des EPC2307 zu testen.
Board-Übersichten
Löt-Layouts
Veröffentlichungsdatum: 2024-09-12
| Aktualisiert: 2024-09-18