Texas Instruments TSM24B Unidirektionale Überspannungsschutzdiode
Die unidirektionale Überspannungsschutzdiode der Baureihe TSM24B von Texas Instruments leitet zuverlässig Ströme von bis zu 20 A des IEC 61000-4-5 Fehlerstroms ab, um Systeme vor hohen transienten Stromstößen oder Blitzeinschlägen zu schützen. Die TSM24B ist für die Ableitung von ESD-Entladungen über den in der internationalen Norm IEC 61000-4-2 festgelegten Maximalpegel (±30 kV Kontakt, ±30 kV Luftspalt) eingestuft. Die TSM24B sperrt während eines Überspannungsereignisses und hält die Systembelastung unter 33 V (typisch) bei IPP = 20 A.
Darüber hinaus ist die TSM24B von Texas Instruments in einem kleinen bleihaltigen SOT-23-Gehäuse (DBZ) verfügbar, das im Vergleich zum Industriestandard-SMA-Gehäuse um ca. 50 Prozent kleiner ausfällt. Das Bauelement ist so konzipiert, dass es eine minimale Auswirkung auf die geschützte Leitung hat, dies ergibt sich aufgrund des extrem geringen Kriechverlusts des Bauelements.
Merkmale
- Robuster Überspannungsschutz
- IEC61000-4-5 (8/20 µs) von 20 A
- Eine niedrige Klemmspannung von 33 V (typisch) bei 20 A für einen Stoßstrom von 8/20 µs schützt nachgeschaltete Komponenten
- Unidirektionale Polarität für optimierte Klemmleistung auf einendigen Datenleitungen und Stromschienen
- 24 V Betriebsspannung zum Schutz von Signalen auf 12-V-Systemen
- Niedriger Ableitstrom von 75 nA (maximal)
- Niedrige I/O-Kapazität von 24 pF (typisch)
- Integrierter IEC 61000-4-2 ESD-Schutz
- Kontaktentladung: ±30 kV
- ±30 kV Luftspaltentladung
- Kleines bedrahtetes SOT-23-Gehäuse zur Reduzierung der Boardfläche und ermöglicht eine automatische optische Inspektion (AOI)
Applikationen
- Industriesensoren
- Controller Area Network (CAN)
- PLC I/O Module
- 24 V Stromleitungen oder digitale Eingangs- oder Ausgangsleitungen
- Haushaltsgeräte
- Medizinische Geräte
- Motortreiber
Funktionales Blockdiagramm
Verwandtes Development Tool
Texas Instruments ESDEVM-Evaluierungsmodul (EVM)
Ist mit allen herkömmlichen ESD-Footprints verfügbar, um eine beliebige Anzahl von Bauteilen zu testen.
Veröffentlichungsdatum: 2023-12-13
| Aktualisiert: 2023-12-19