NXP Semiconductors RD33774ADSTEVB Evaluierungsboard
NXP Semiconductors RD33774ADSTEVB Evaluierungsboard ist ein verteiltes Referenzdesign für die Zellüberwachungseinheit (CMU) mit einem elektrischen Transportprotokoll-Link (ETPL). Dieses Evaluierungsboard enthält einen integrierten MC33774A Batteriezellen-Controller-Schaltkreis in einer Verkettung. Das RD33774ADSTEVB Evaluierungsboard enthält System-in-Package-Bauteile, die eine Hochvolumentechnologie verwenden. Dieses Evaluierungsboard unterstützt eine Reihe von Analog-, Mischsignal- und Leistungslösungen. Das RD33774ADSTEVB Evaluierungsboard führt eine Analog-Digital-Wandlung der differentiellen Zellspannungen und -ströme durch.
Dieses Evaluierungsboard kann für ein schnelles Prototyping von MC33774A-basierten Applikationen verwendet werden, die Spannungs- und Temperaturmessung beinhalten. Das RD33774ADSTEVB Evaluierungsboard ist für den Einsatz in Fahrzeuganwendungen und Industrieapplikationen ausgelegt.
Merkmale
- Daisy-Chain-Bauteil-Verbindung
- LED-Anzeige für Betriebsmodus
- Zellenausgleichs-Widerstände (22 Ω pro Einzelzelle)
- Zellenmesseingang mit RC-Filter
- GPIO:
- Digitale I/O, Aktivierungseingänge, Umwandlungsauslöser-Eingänge, ratiometrische Analogeingänge und analoge Eingänge mit absoluten Messungen
- EEPROM (über die I2C-Schnittstelle mit dem IC verbunden) zum Speichern benutzerdefinierter Kalibrierungsparameter
Applikationen
- Automobil-Applikationen
- Industrie-Bauteile
Blockdiagramm
Verwandte Produkte
NXP Semiconductors MC33774A Li-Ionen-Batteriezellen-Controller-ICs
Erreichen die ASIL-D-Ziele für funktionale Sicherheit bei Zellspannungs- und Zelltemperaturmessungen.
Veröffentlichungsdatum: 2024-05-03
| Aktualisiert: 2024-05-29