Texas Instruments CC256x Bluetooth/Dual-Modus-Testplatine
Die Texas Instruments CC256x Bluetooth/Dual-Modus-Testplatine ist für die Auswertung der CC2560/CC2564 Bluetooth und Dual-Modus-Controller konzipiert. Die Testplatine ist für Probezwecke konzipiert und funktioniert mit Texas Instruments Entwicklungs-Kits wie MSP-EXP430F5529, MSP-EXP430F5438, DK-TM4C123G und DK-TM4C129X. Das TI CC256x Bluetooth-Gerät ist eine vollständige BR/EDR/LE HCI-Lösung, die Systemaufwand reduziert und einen schnellen Markteintritt für Anwendungen wie Kabelersatz, drahtlose Sensoren, Zubehör für Mobilgeräte-, industrielle Steuerung, Gesundheits- und Fitnessgeräte und einfache Audiolösungen erlaubt. Das Gerät basiert auf dem Kern der 7. Generation von TI und bietet eine praxisgerechte Lösung, die 4.1 Dual-Modus- (BR/EDR/LE) Protokolle unterstützt.
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